나노 단위 비접촉 측정 기술 (NCM)
작성일 : 2025.11.14 18:35:14
이 기술은 기존의 접촉식 측정 방식이 야기하는 오류와 제품 손상을 원천 차단합니다.
독자적인 레이저 간섭계와 초고속 광학 스캐닝 기술을 결합하여, 100 나노미터(nm) 이하의 초정밀 해상도로 부품의 표면 거칠기, 평탄도, 미세 결함을 실시간으로 측정합니다.
반도체 웨이퍼나 고정밀 금형 가공 시 생산 공정 중에도 오차 없이 품질을 즉각적으로 검증하여, 수율 관리의 새로운 기준을 제시합니다.